介質(zhì)損耗測(cè)試儀廣泛的應(yīng)用性

1、特點(diǎn)及性能

介損絕緣試驗(yàn)可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)以及局部缺陷等，在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都廣泛應(yīng)用。

介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x用于現(xiàn)場(chǎng)介損測(cè)量或試驗(yàn)室精密介損測(cè)量。儀器為一體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)置介損電橋、變頻電源、試驗(yàn)變壓器和標(biāo)準(zhǔn)電容器等。儀器采用變頻抗干擾和傅立葉變換數(shù)字濾波技術(shù)，全自動(dòng)智能化測(cè)量，強(qiáng)干擾下測(cè)量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。測(cè)量結(jié)果由大屏幕液晶顯示，儀器自帶微型打印機(jī)可打印輸出測(cè)試結(jié)果。

1.1主要技術(shù)指標(biāo)

額定工作條件：環(huán)境溫度  -10℃～50℃

相對(duì)濕度  <85%

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電或發(fā)電機(jī)供電

準(zhǔn)確度：      Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）

抗干擾指標(biāo)：變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度

電容量范圍：內(nèi)施高壓：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分辨率：*高0.001pF，4位有效數(shù)字

tgδ范圍：不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)別。

試驗(yàn)電流范圍： 10μA～5A

內(nèi)施高壓：設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降壓方式：連續(xù)平滑調(diào)節(jié)

電壓精度：±(1.0%×讀數(shù)+10V)

電壓分辨率：0.1V

試驗(yàn)頻率：45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動(dòng)雙變頻

頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：正、反接線(xiàn)時(shí)*大試驗(yàn)電流5A

CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A

高電壓介損：支持變頻和諧振電源高電壓介損

實(shí)時(shí)時(shí)鐘：實(shí)時(shí)顯示時(shí)間和日期

內(nèi)部存儲(chǔ)：儀器內(nèi)部可存儲(chǔ)100組測(cè)量數(shù)據(jù)

U盤(pán)：支持U盤(pán)存儲(chǔ)

打印機(jī)：微型熱敏打印機(jī)

計(jì)算機(jī)接口：標(biāo)準(zhǔn)RS232接口（選配）

尺寸重量：K型：外形尺寸368mm×288mm×280mm；主機(jī)重量22kg。

其他款型：外形尺寸430mm×314mm×334mm；主機(jī)重量30kg。

注：上述為E型主要技術(shù)指標(biāo)，其它型號(hào)技術(shù)指標(biāo)詳見(jiàn)本章節(jié)“1.3.6各型號(hào)測(cè)試功能說(shuō)明”。

1.2 系列型號(hào)功能列表

1.3 主要功能特點(diǎn)

1.3.1 變頻抗干擾

采用變頻抗干擾技術(shù)，在200%干擾下仍能準(zhǔn)確測(cè)量，測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定，適合在現(xiàn)場(chǎng)做抗干擾介損試驗(yàn)。

1.3.2高精度測(cè)量

采用數(shù)字波形分析和電橋自校準(zhǔn)等技術(shù)，配合高精度三端標(biāo)準(zhǔn)電容器，實(shí)現(xiàn)高精度介損測(cè)量。儀器所有量程輸入電阻低于2Ω，消除了測(cè)量電纜附加電容的影響。

1.3.3**措施

高壓保護(hù)：試品短路、擊穿或高壓電流波動(dòng)，能以短路方式高速切斷輸出。

供電保護(hù)：誤接380V、電源波動(dòng)或突然斷電，啟動(dòng)保護(hù)，不會(huì)引起過(guò)電壓。

接地保護(hù)：具有接地檢測(cè)功能，未接地時(shí)不能升壓，若測(cè)量過(guò)程中儀器接地**則啟動(dòng)接地保護(hù)。

CVT 保護(hù)：高壓側(cè)電壓和電流、低壓側(cè)電壓和電流四個(gè)保護(hù)限制，不會(huì)損壞設(shè)備；誤選菜單不會(huì)輸出激磁電壓。CVT測(cè)量時(shí)無(wú)10kV高壓輸出。

防誤操作：兩級(jí)電源開(kāi)關(guān)；電壓、電流實(shí)時(shí)監(jiān)視；多次按鍵確認(rèn)；接線(xiàn)端子高/低壓分明；慢速升壓，可迅速降壓，聲光報(bào)警。

防“容升”：測(cè)量大容量試品時(shí)會(huì)出現(xiàn)電壓抬高的“容升”效應(yīng)，儀器能自動(dòng)跟蹤輸出電壓，保持試驗(yàn)電壓恒定。

高壓電纜：為耐高壓絕緣導(dǎo)線(xiàn)，可拖地使用。

抗震性能：儀器采用獨(dú)特抗震設(shè)計(jì)，可耐受強(qiáng)烈長(zhǎng)途運(yùn)輸震動(dòng)、顛簸而不會(huì)損壞。

1.3.4打印存儲(chǔ)

儀器自帶微型打印機(jī)，可以將測(cè)量結(jié)果打印輸出，并將測(cè)量結(jié)果存貯到儀器內(nèi)（可存儲(chǔ)100組測(cè)量數(shù)據(jù)）或U盤(pán)，以便日后查閱。

1.3.5實(shí)時(shí)時(shí)鐘

儀器內(nèi)帶實(shí)時(shí)時(shí)鐘，實(shí)時(shí)顯示，并能記錄測(cè)量的日期和時(shí)間。

1.3.6各型號(hào)測(cè)試功能說(shuō)明

B型：輕便型，高壓*大輸出電流為140mA，具有正接線(xiàn)、反接線(xiàn)功能，可選擇內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)/外高壓多種工作模式，一體化結(jié)構(gòu)，可做各種常規(guī)介損試驗(yàn)。

D型：實(shí)用型，高壓*大輸出電流為200mA，具有正接線(xiàn)、反接線(xiàn)、反接線(xiàn)低壓屏蔽、CVT自激法，反接線(xiàn)低壓屏蔽功能能在220kV CVT母線(xiàn)接地情況下，對(duì)C11進(jìn)行不拆線(xiàn)10kV反接線(xiàn)介損測(cè)量，并可一次接線(xiàn)同時(shí)測(cè)出兩個(gè)電容的電容量和介損值。CVT自激法測(cè)量時(shí)，C1/C2可一次接線(xiàn)同時(shí)測(cè)出，無(wú)須換線(xiàn)和外接任何配件，但高壓測(cè)量線(xiàn)需懸空吊起。

E型：標(biāo)準(zhǔn)型，在D型基礎(chǔ)上增加了CVT變比測(cè)試功能，同時(shí)升級(jí)了CVT自激法測(cè)試，現(xiàn)場(chǎng)CVT自激法測(cè)試時(shí)高壓測(cè)量線(xiàn)可拖地使用，無(wú)需吊起。

F型：增強(qiáng)型，功能同E型，輸出*高電壓從10kV增加至12kV。

K型：標(biāo)準(zhǔn)型，在E型基礎(chǔ)上減小體積重量，設(shè)備更精巧。

S型：四通道型，功能同E型，增加了3個(gè)正接通道。

J型：高精度型，功能同E型，測(cè)量準(zhǔn)確度為0.5%。

所有型號(hào)儀器均具備下述特點(diǎn)：

（1）支持變頻和諧振電源高電壓介損。

（2）內(nèi)置串聯(lián)和并聯(lián)兩種介損測(cè)量模型，方便儀器檢定。

（3）配置熱敏打印機(jī)，使打印更加快捷、無(wú)噪音和清晰。

（4）320×240點(diǎn)陣大屏液晶顯示，菜單操作，測(cè)試數(shù)據(jù)豐富，自動(dòng)分辨電容、電感、電阻型試品。

（5）具有外接標(biāo)準(zhǔn)電容器接口，可外接油杯做精密絕緣油介損試驗(yàn)，可外接固體材料測(cè)量電極做精密絕緣材料介損試驗(yàn)，也可外接高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器做高電壓介損試驗(yàn)。

（6）帶日歷時(shí)鐘，可存儲(chǔ)100組測(cè)量數(shù)據(jù)。

（7）計(jì)算機(jī)接口（選配）。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀廣泛的應(yīng)用性

2、面板說(shuō)明

高壓輸出測(cè)量接地：若出廠配置的高壓測(cè)試線(xiàn)有接地屏蔽層，則需將高壓測(cè)量線(xiàn)的接地屏蔽層連接至此處，沒(méi)有則留空。CVT自激法測(cè)量的高壓連線(xiàn)接地屏蔽層在拖地模式下必須接地，非拖地模式下接地屏蔽層應(yīng)懸空不能接地且高壓測(cè)量線(xiàn)也應(yīng)懸空吊起不能拖地。

高壓輸出插座（0.5～10kV，*大200mA）

安裝位置：如圖2-1所示，安裝在箱體前側(cè)面。

功    能：內(nèi)高壓輸出；檢測(cè)反接線(xiàn)試品電流；內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)電容器的高壓端。

接線(xiàn)方法：插座1腳接高壓線(xiàn)芯線(xiàn)（紅夾子），2、3腳接高壓線(xiàn)屏蔽（黑夾子）。正接線(xiàn)時(shí)，高壓線(xiàn)芯線(xiàn)（紅夾子）和屏蔽（黑夾子）都可以用作加壓線(xiàn)；反接線(xiàn)時(shí)只能用芯線(xiàn)對(duì)試品高壓端加壓。如果試品高壓端有屏蔽極（如高壓端的屏蔽環(huán)）可接高壓屏蔽，無(wú)屏蔽時(shí)高壓屏蔽懸空。若配置的高壓測(cè)試線(xiàn)有接地屏蔽層，則需將高壓測(cè)量線(xiàn)的接地屏蔽層連接至圖2-1中的“1”處。

注意事項(xiàng)：

（1）若儀器CVT自激法高壓連線(xiàn)具備“高壓拖地”功能，使用拖地模式測(cè)量時(shí)務(wù)必使用原廠配置的專(zhuān)用高壓電纜（原廠電纜在出廠時(shí)已進(jìn)行校準(zhǔn)），不可使用其它高壓電纜代替，否則會(huì)引起較大的測(cè)量誤差。CVT自激法不使用拖地模式時(shí)，高壓電纜必須懸空，接地屏蔽層也不能接地！

（2）高壓插座和高壓線(xiàn)有危險(xiǎn)電壓，**禁止碰觸高壓插座、電纜、夾子和試品帶電部位！確認(rèn)斷電后接線(xiàn)，測(cè)量時(shí)務(wù)必遠(yuǎn)離！

（3）用標(biāo)準(zhǔn)介損器（或標(biāo)準(zhǔn)電容器）檢定反接線(xiàn)精度時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接試品，否則暴露的芯線(xiàn)會(huì)引起測(cè)量誤差。

（4）應(yīng)保證高壓線(xiàn)與試品高壓端零電阻連接，否則可能引起誤差或數(shù)據(jù)波動(dòng)，也可能引起儀器保護(hù)。

（5）強(qiáng)干擾下拆除接線(xiàn)時(shí)，應(yīng)在保持電纜接地狀態(tài)下斷開(kāi)連接，以防感應(yīng)電擊。

CVT自激法低壓輸出插座（3～50V，3～30A）

功    能：由該插座和圖2-1中的接地接線(xiàn)柱“4”輸出CVT測(cè)量的低壓變頻激勵(lì)電源。

注意事項(xiàng)：

（1）因低壓輸出電流大，應(yīng)采用儀器專(zhuān)用低阻線(xiàn)連接CVT二次繞組，接觸**會(huì)影響測(cè)量。

（2）視CVT容量從菜單選擇合適的電壓電流保護(hù)限。

（3）選擇正/反接線(xiàn)時(shí)，此輸出封閉。

測(cè)量接地：它同外殼和電源插座地線(xiàn)連到一起，與圖2-1的“3”一起輸出CVT測(cè)量的低壓變頻激勵(lì)電源。盡管儀器有接地保護(hù)，但無(wú)論何種測(cè)量，儀器都應(yīng)可靠獨(dú)立接地以保障使用者的**及測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確。

打印機(jī)：微型熱敏打印機(jī)，用于打印測(cè)試數(shù)據(jù)。

USB：USB通信用。

RS232：與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)使用。

U盤(pán)：用于外接U盤(pán)保存數(shù)據(jù)。

試品輸入Cx插座（10μA～5A）

功    能：正接線(xiàn)時(shí)輸入試品電流。

接線(xiàn)方法：插座1腳接測(cè)量線(xiàn)芯線(xiàn)（紅夾子），2、3腳接測(cè)量線(xiàn)屏蔽（黑夾子）。正接線(xiàn)時(shí)芯線(xiàn)（紅夾子）接試品低壓信號(hào)端，如果試品低壓端有屏蔽極（如低壓端的屏蔽環(huán)）可接屏蔽，試品無(wú)屏蔽時(shí)屏蔽懸空。

注意事項(xiàng)：

（1）測(cè)量中嚴(yán)禁拔下插頭，防止試品電流經(jīng)人體入地！

（2）用標(biāo)準(zhǔn)介損器（或標(biāo)準(zhǔn)電容器）檢測(cè)儀器正接線(xiàn)精度時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接試品，否則暴露的芯線(xiàn)會(huì)引起測(cè)量誤差。

（3）應(yīng)保證引線(xiàn)與試品低壓端0電阻連接，否則可能引起誤差或數(shù)據(jù)波動(dòng)，也可能引起儀器保護(hù)。

（4）強(qiáng)干擾下拆除接線(xiàn)時(shí)，應(yīng)在保持電纜接地狀態(tài)下斷開(kāi)連接，以防感應(yīng)電擊。

標(biāo)準(zhǔn)電容輸入Cn插座（10μA～5A）

功    能：輸入外接標(biāo)準(zhǔn)電容器電流。

接線(xiàn)方法：與Cx插座類(lèi)似，其區(qū)別在于：

（1）使用外部標(biāo)準(zhǔn)電容器時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接。此方式常用于外接高電壓等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)電容器，實(shí)現(xiàn)高電壓介損測(cè)量。

（2）菜單選擇“外標(biāo)準(zhǔn)電容”方式。

（3）將外接標(biāo)準(zhǔn)電容器的C和tgδ置入儀器，實(shí)現(xiàn)Cx電容介損的**值測(cè)量。

從理論上講，任何容量和介損的電容器，將參數(shù)置入儀器都可做標(biāo)準(zhǔn)電容器。不同的是標(biāo)準(zhǔn)電容器能提供更好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和精度。

（4）不管正接線(xiàn)還是反接線(xiàn)測(cè)量，標(biāo)準(zhǔn)電容器接線(xiàn)方式始終為正接線(xiàn)。

總電源開(kāi)關(guān)：開(kāi)關(guān)機(jī)用，可在發(fā)現(xiàn)異常時(shí)隨時(shí)關(guān)閉。

供電電源插座：接220V市電，插座內(nèi)置保險(xiǎn)絲座，保險(xiǎn)絲規(guī)格為10A / 250V，若損壞應(yīng)使用相同規(guī)格的保險(xiǎn)絲替換。若換用備用保險(xiǎn)絲后仍燒斷，可能儀器有故障，可通知廠家處理。

高壓允許開(kāi)關(guān)：內(nèi)置高壓系統(tǒng)或CVT自激法低壓輸出系統(tǒng)的總電源開(kāi)關(guān)。此開(kāi)關(guān)受總電源開(kāi)關(guān)控制。

按鍵：按下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵可移動(dòng)光標(biāo)和修改光標(biāo)處內(nèi)容，“確認(rèn)”鍵用于確認(rèn)或結(jié)束參數(shù)修改，在測(cè)試界面長(zhǎng)按該鍵可開(kāi)始測(cè)量，測(cè)量過(guò)程中，按“確認(rèn)”鍵可終止測(cè)量。

液晶顯示屏：320×240點(diǎn)陣灰白背光液晶顯示屏，顯示菜單、測(cè)量結(jié)果或出錯(cuò)信息。應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)間陽(yáng)光爆曬，避免重壓。

背光調(diào)節(jié)：液晶顯示屏顯示較暗或不清晰時(shí)可調(diào)節(jié)該電位器至合適位置使顯示明亮清晰。

指示燈：配合儀器內(nèi)部蜂鳴器進(jìn)行測(cè)試、報(bào)警等聲光警示。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀廣泛的應(yīng)用性

3、使用說(shuō)明

3.1初始菜單界面

打開(kāi)總電源開(kāi)關(guān)后，系統(tǒng)進(jìn)入初始菜單界面。

測(cè)試模式：選擇測(cè)試模式和設(shè)置各項(xiàng)測(cè)試參數(shù)，

歷史記錄：查看保存的歷史數(shù)據(jù)

系統(tǒng)設(shè)置：出廠參數(shù)設(shè)置及系統(tǒng)時(shí)間校準(zhǔn)

幫    助：可查閱軟件版本等信息

取消或使用CVT自激法“高壓連線(xiàn)拖地”功能：

開(kāi)機(jī)右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測(cè)試時(shí)高壓連線(xiàn)具備拖地功能。

光標(biāo)停留在“測(cè)試模式”處長(zhǎng)按“→”鍵（聽(tīng)到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當(dāng)前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線(xiàn)的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測(cè)量接地）處，否則會(huì)引起測(cè)量誤差；取消拖地模式后高壓連線(xiàn)必須懸空吊起，同時(shí)高壓連線(xiàn)的接地屏蔽層插頭也應(yīng)懸空，否則會(huì)引起測(cè)量誤差。

使用或取消發(fā)“發(fā)電機(jī)供電”模式：

光標(biāo)停留在“測(cè)試模式”處長(zhǎng)按“←”鍵（聽(tīng)到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發(fā)電機(jī)供電模式（左下角顯示“”表示當(dāng)前為發(fā)電機(jī)供電模式），儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)為市電供電模式，發(fā)電機(jī)模式適合使用發(fā)電機(jī)或移動(dòng)電源供電環(huán)境，發(fā)電機(jī)模式下儀器將不進(jìn)行接地檢測(cè)。

3.2測(cè)試模式

3.2.1 開(kāi)始測(cè)試菜單界面

在初始菜單界面將光標(biāo)移動(dòng)到“測(cè)試模式”按確定按鈕進(jìn)入開(kāi)始測(cè)試菜單界面，如圖3-2所示。

界面左側(cè)為參數(shù)設(shè)置選項(xiàng)，移動(dòng)光標(biāo)到相關(guān)參數(shù)選項(xiàng)按確定鍵可設(shè)置相關(guān)試驗(yàn)參數(shù)，右側(cè)顯示內(nèi)容為已設(shè)置好試驗(yàn)參數(shù)，光標(biāo)停留在“開(kāi)始測(cè)試”欄長(zhǎng)按“確認(rèn)” 鍵可開(kāi)始測(cè)試。

界面右側(cè)“測(cè)試地點(diǎn)”下一行為信息提示行，若內(nèi)外高壓選擇有誤則提示“當(dāng)前為內(nèi)高壓模式，請(qǐng)開(kāi)啟內(nèi)高壓”或“當(dāng)前為外高壓模式，請(qǐng)關(guān)閉內(nèi)高壓”；若儀器沒(méi)有接地則會(huì)提示“請(qǐng)檢查接地”，當(dāng)有錯(cuò)誤提示時(shí)儀器無(wú)法正常啟動(dòng)，只有提示“確認(rèn)無(wú)誤后長(zhǎng)按確認(rèn)鍵開(kāi)始測(cè)試”時(shí)儀器方可啟動(dòng)測(cè)試。

3.2.2 試品模型選擇菜單界面

將光標(biāo)移動(dòng)到“試品模型”功能選項(xiàng)，界面如圖3-3所示，按“確認(rèn)”按鈕后移動(dòng)光標(biāo)可選擇合適的試品模型（光標(biāo)移動(dòng)到相應(yīng)功能后按確認(rèn)鍵）。實(shí)驗(yàn)室一般使用串聯(lián)型介損因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器檢定，校驗(yàn)時(shí)應(yīng)使用RC串聯(lián)模型。

RC串聯(lián)(電流比較儀型電橋)：采用電流比較儀型電橋（如QS30電橋）校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器)，該項(xiàng)在開(kāi)始測(cè)試界面顯示"RC串聯(lián)"。

RC串聯(lián)(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器) ，該項(xiàng)在開(kāi)始測(cè)試界面顯示 "RC串聯(lián)"。

RC并聯(lián)(現(xiàn)場(chǎng)使用)：一般實(shí)際的電容試品可等效為RC并聯(lián)模型，建議現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)使用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器)的區(qū)別只是電容量不同：為西林型電橋標(biāo)定值，C為電流比較儀型電橋標(biāo)定值。

3.2.3 接線(xiàn)方式選擇菜單界面

將光標(biāo)移動(dòng)到“接線(xiàn)方式”功能選項(xiàng)，界面如圖3-4所示，按“確認(rèn)”按鈕后移動(dòng)光標(biāo)可選擇合適的接線(xiàn)方式。

接線(xiàn)方式：共5種接線(xiàn)方式（功能因型號(hào)有差別，具體詳見(jiàn)型號(hào)功能說(shuō)明部分），分別為：正接線(xiàn)、反接線(xiàn)、反接線(xiàn)低壓屏蔽、CVT自激法和變比。選擇CVT自激法測(cè)量時(shí)需同時(shí)將相關(guān)參數(shù)一并設(shè)置好。

CVT自激法測(cè)量必須打開(kāi)內(nèi)高壓允許開(kāi)關(guān)，由機(jī)內(nèi)提供激勵(lì)電壓，由“低壓輸出”和“測(cè)量接地”輸出。為**起見(jiàn)，CVT自激法還需要設(shè)置以下幾個(gè)保護(hù)限：

將光標(biāo)移動(dòng)到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按↑↓選擇合適值，選擇好后按確認(rèn)鍵退出。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓上限，只能使用4kV以下電壓。

xxmA：可選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待測(cè)試品的高壓電流上限。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示低壓激勵(lì)電壓上限。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低壓激勵(lì)電流上限。

注意：

（1）測(cè)量時(shí)4個(gè)保護(hù)限同時(shí)起作用，因此試驗(yàn)高壓可能達(dá)不到設(shè)定值。如果高壓達(dá)不到保護(hù)限，可適當(dāng)調(diào)整受到限制的保護(hù)限。

（2）通常測(cè)量C1時(shí)低壓激勵(lì)電壓可達(dá)20V，測(cè)量C2時(shí)低壓激勵(lì)電流可達(dá)15A。一般可設(shè)高壓電壓2～3kV，較少采用高壓電流限制，可設(shè)為*大200mA。

變比測(cè)量時(shí)應(yīng)選擇合適的高壓輸出使二次側(cè)電壓小于120V，當(dāng)二次側(cè)電壓≥120V時(shí)儀器會(huì)發(fā)出聲光報(bào)警并提示“接線(xiàn)錯(cuò)誤”。

3.2.4 標(biāo)準(zhǔn)電容選擇菜單界面

將光標(biāo)移動(dòng)到“標(biāo)準(zhǔn)電容”功能選項(xiàng)，界面如圖3-5所示，按“確認(rèn)”按鈕后移動(dòng)光標(biāo)可選擇合適的標(biāo)準(zhǔn)電容。選擇外標(biāo)準(zhǔn)電容時(shí)需同時(shí)將外標(biāo)準(zhǔn)的電容量和介損一并設(shè)置好。

選擇外標(biāo)準(zhǔn)電容時(shí)將光標(biāo)移動(dòng)到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按↑↓選擇合適值，選擇好后按確認(rèn)鍵退出。

Cn采用科學(xué)計(jì)數(shù)法，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設(shè)置范圍0～±9.999%。

內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容通常可用于正、反接線(xiàn)測(cè)量和CVT自激法測(cè)量，高電壓介損選用外標(biāo)準(zhǔn)方式，需要將外接電容參數(shù)置入儀器。

3.2.5 測(cè)試頻率選擇菜單界面

測(cè)試頻率可選擇定頻或異頻，頻率選擇菜單界面如圖3-6所示，頻率選擇范圍如下：

定頻：

“50Hz”：為工頻測(cè)量，此設(shè)置不能抗干擾，在試驗(yàn)室內(nèi)測(cè)量或校驗(yàn)時(shí)選用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻率測(cè)量，研究不同頻率下介損的變化時(shí)選用。

頻率自適應(yīng)：外高壓測(cè)量模式下有效（不能更改），系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別外施高壓頻率，測(cè)試頻率無(wú)需在測(cè)試前設(shè)置。

異頻：

“45/55Hz”：為自動(dòng)變頻，適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

“55/65Hz”：為自動(dòng)變頻，適合60Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

“47.5/52.5Hz”：為自動(dòng)變頻，適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

3.2.6 測(cè)試電壓選擇菜單界面

內(nèi)高壓可選擇“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高輸出電壓為12kV），應(yīng)根據(jù)高壓試驗(yàn)規(guī)程選擇合適的試驗(yàn)電壓。

注：若選擇“CVT自激法”測(cè)試功能，則該選項(xiàng)無(wú)效。CVT自激法的相關(guān)電壓參數(shù)需在該功能選項(xiàng)下進(jìn)行設(shè)置。

3.2.7 測(cè)試備忘設(shè)置菜單界面

設(shè)備編號(hào)：可設(shè)置8位字母或數(shù)字編號(hào)，將光標(biāo)移動(dòng)到”設(shè)備編號(hào)”處，按確認(rèn)健進(jìn)入設(shè)備編號(hào)設(shè)置，通過(guò)“←”、“→”健移動(dòng)光標(biāo)，通過(guò)↑↓選擇合適值，設(shè)置好后按確認(rèn)鍵退出。

測(cè)試人員：可設(shè)置8位字母或數(shù)字編號(hào)，將光標(biāo)移動(dòng)到” 測(cè)試人員”處，按確認(rèn)健進(jìn)入測(cè)試人員設(shè)置，通過(guò)“←”、“→”健移動(dòng)光標(biāo)，通過(guò)↑↓選擇合適值，設(shè)置好后按確認(rèn)鍵退出。

測(cè)試地點(diǎn)：可設(shè)置8位字母或數(shù)字編號(hào)，將光標(biāo)移動(dòng)到” 測(cè)試地點(diǎn)”處，按確認(rèn)健進(jìn)入測(cè)試地點(diǎn)設(shè)置，通過(guò)“←”、“→”健移動(dòng)光標(biāo)，通過(guò)↑↓選擇合適值，設(shè)置好后按確認(rèn)鍵退出。

3.2.8 測(cè)試結(jié)果界面

3.2.8.1反接法測(cè)試結(jié)果界面

測(cè)試完成顯示結(jié)果后，可移動(dòng)光標(biāo)選擇保存或打印數(shù)據(jù)。

儀器自動(dòng)分辨電容、電感、電阻型試品：電容型試品顯示Cx和tgδ；電感型試品顯示Lx和Q；電阻型試品顯示Rx和附加Cx或Lx。自動(dòng)選取顯示單位。

試品為電容時(shí)：顯示數(shù)據(jù)為Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯示電容和串/并聯(lián)電阻

試品為電感時(shí)：顯示數(shù)據(jù)為L(zhǎng)x、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯示電感和串聯(lián)電阻

試品為電阻時(shí)：顯示數(shù)據(jù)為Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品電容量[1μF=1000nF納法 / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即10000pF

tgδ   介損因數(shù)[1%=0.01]

Lx   試品電感量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q     品質(zhì)因數(shù)[無(wú)單位]

Rx   試品電阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試驗(yàn)電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix    試品電流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ     試品電流超前試驗(yàn)電壓的角度[°度]或測(cè)變比時(shí)一次電壓超前二次電壓的角度

K     測(cè)CVT變比時(shí)，一次電壓比二次電壓

f1    頻率[Hz]，顯示**次測(cè)試頻率

f2    頻率[Hz]，顯示**次測(cè)試頻率

顯示over表示測(cè)量數(shù)據(jù)超量程。

3.2.8.2反接線(xiàn)低壓屏蔽測(cè)試結(jié)果界面

反接線(xiàn)低壓屏蔽測(cè)試一次接線(xiàn)可同時(shí)測(cè)出C11和C下節(jié)(下端屏蔽部分)的電容量和介損值。

3.2.8.3 CVT自激法測(cè)試結(jié)果界面

CVT自激法按測(cè)量接線(xiàn)，與試品輸入Cx插座連接的定義為C1，與高壓線(xiàn)連接的為C2。U1為測(cè)量C1時(shí)的高壓，U2為測(cè)量C2時(shí)的高壓。

3.3歷史數(shù)據(jù)

進(jìn)入歷史數(shù)據(jù)菜單界面如圖3-12所示。

移動(dòng)光標(biāo)到“U盤(pán)”選項(xiàng)按“確定”鍵可將數(shù)據(jù)導(dǎo)出到U盤(pán)，上移到“清空”選項(xiàng)按“確定”鍵可清空保存的全部數(shù)據(jù)。將光標(biāo)移動(dòng)到“>>>>”選項(xiàng)按下“確定”鍵進(jìn)入數(shù)據(jù)選擇界面，光標(biāo)位置默認(rèn)停留在*近保存的單條數(shù)據(jù)上，若要查看其他數(shù)據(jù)可上下移動(dòng)光標(biāo)進(jìn)行選擇，選擇好要查看的數(shù)據(jù)后按“確定”按鈕進(jìn)入單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面。歷史數(shù)據(jù)選擇界面和單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面如圖3-13和圖3-14所示。

進(jìn)入單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面后，在左側(cè)功能選項(xiàng)區(qū)上下移動(dòng)光標(biāo)可選擇打印、刪除本條數(shù)據(jù)和退出單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面。

3.4系統(tǒng)設(shè)置

進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置菜單可進(jìn)行系統(tǒng)時(shí)間校準(zhǔn)，“出廠設(shè)置”參數(shù)禁止用戶(hù)修改，只允許生產(chǎn)廠家進(jìn)行出廠參數(shù)設(shè)置。

3.5幫助

可查看儀器的相關(guān)操作指導(dǎo)。

3.6啟動(dòng)測(cè)量

進(jìn)入測(cè)試界面設(shè)置好各項(xiàng)試驗(yàn)參數(shù)后，將光標(biāo)移動(dòng)到“開(kāi)始測(cè)試”功能選項(xiàng)上，按住“確認(rèn)”鍵3s以上啟動(dòng)測(cè)量。

啟動(dòng)測(cè)量后發(fā)出聲光報(bào)警；在測(cè)試過(guò)程中會(huì)實(shí)時(shí)顯示測(cè)試相關(guān)參數(shù)（電壓、電流、頻率、電容量等參數(shù)）和測(cè)量進(jìn)程(0%～99%)。

測(cè)量中按“確認(rèn)”鍵可取消測(cè)量，遇緊急情況立即關(guān)閉總電源。

測(cè)量過(guò)程結(jié)束，儀器自動(dòng)降壓后再顯示結(jié)果。

3.7對(duì)比度調(diào)節(jié)

液晶顯示屏的對(duì)比度已在出廠時(shí)校好，如果您感覺(jué)不夠清晰，調(diào)整面板上的電位器使液晶顯示屏顯示內(nèi)容清晰為止。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀廣泛的應(yīng)用性

4、參考接線(xiàn)

4.1常規(guī)正接線(xiàn)（正接線(xiàn)、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓）

4.2常規(guī)反接線(xiàn)（反接線(xiàn)、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓）

4.3正接線(xiàn)、外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓

4.4反接線(xiàn)、外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓

4.5正接線(xiàn)、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓

4.6反接線(xiàn)、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓

4.7正接線(xiàn)、外標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓（高電壓介損）

4.8反接線(xiàn)、外標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓

4.9反接線(xiàn)低壓屏蔽

可在220kV CVT母線(xiàn)接地情況下，對(duì)C11進(jìn)行不拆線(xiàn)10kV反接線(xiàn)介損測(cè)量。如下圖所示：母線(xiàn)掛地線(xiàn)，C11上端不拆線(xiàn)，C11下端接高壓線(xiàn)芯線(xiàn)，C2末端δ和X接Cx芯線(xiàn)。這樣C12和C2被低壓屏蔽，儀器采用反接線(xiàn)低壓屏蔽測(cè)量方式，可同時(shí)測(cè)出C11和下端被屏蔽部分的電容量和介損值。

4.10 CVT自激法

高壓線(xiàn)芯線(xiàn)接C2下端，Cx芯線(xiàn)接C12上端。在CVT 自激法測(cè)量中，儀器先測(cè)量C12，然后自動(dòng)倒線(xiàn)測(cè)量C2，并自動(dòng)校準(zhǔn)分壓影響。

1）D型高壓連線(xiàn)不可拖地，高壓線(xiàn)應(yīng)懸空不能接觸地面（高壓線(xiàn)的接地屏蔽層插頭必須懸空），否則其對(duì)地附加介損會(huì)引起誤差，可用細(xì)電纜連接高壓插座與CVT試品并吊起。

2）E、F、S、J型高壓連線(xiàn)可拖地使用，在開(kāi)機(jī)初始界面（圖3-1界面），光標(biāo)停留在“測(cè)試模式”處長(zhǎng)按“→”鍵（聽(tīng)到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當(dāng)前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線(xiàn)的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測(cè)量接地）處，否則會(huì)引起測(cè)量誤差；取消拖地模式后高壓連線(xiàn)必須懸空吊起，高壓連線(xiàn)的接地屏蔽層插頭也應(yīng)懸空，否則會(huì)引起測(cè)量誤差。拖地模式下的高壓連線(xiàn)必須使用原廠配置的電纜（已校準(zhǔn)），否則會(huì)引起測(cè)量誤差！

4.11 CVT變比測(cè)試

儀器高壓線(xiàn)的芯線(xiàn)紅夾子接CVT的上端，母線(xiàn)拆地，CVT下端接地，低壓線(xiàn)紅黑夾子接二次繞組。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀廣泛的應(yīng)用性

5、常見(jiàn)CVT的參考測(cè)量方法

目前常見(jiàn)的電容式電壓互感器可分為110kV、220kV、500kV等不同電壓等級(jí)，一般110kV的CVT其C1就一節(jié)，220kV的CVT其C1有兩節(jié)，而500kV的CVT其C1有三節(jié)。

5.1  500kV CVT的測(cè)量方法

1）C11的測(cè)量方法

按圖5-1標(biāo)明的方式接線(xiàn)，測(cè)量C11時(shí)應(yīng)注意：

◇ 拆開(kāi)δ端，X端一定要接地

◇ a點(diǎn)接紅色高壓測(cè)試線(xiàn)的芯線(xiàn)（紅夾子），b點(diǎn)接紅色高壓測(cè)試線(xiàn)的高壓屏蔽層（黑夾子）

2）C12的測(cè)量方法

按圖5-2標(biāo)明的方式接線(xiàn)，測(cè)量C12時(shí)注意：

◇ 拆開(kāi)δ端，X端一定要接地

◇ a點(diǎn)接紅色高壓測(cè)試線(xiàn)芯線(xiàn)（紅夾子），b點(diǎn)接黑色低壓測(cè)試線(xiàn)芯線(xiàn)（紅夾子）

3）C13和C2的測(cè)量方法

儀器設(shè)有專(zhuān)門(mén)的CVT自激法，不需外加任何其它設(shè)備，就可以完成測(cè)試。按圖5-3標(biāo)明的方式接線(xiàn)，儀器選用CVT自激法測(cè)量方式，試驗(yàn)電壓可設(shè)置為2kV，CVT自激法能一次測(cè)量C13和C2兩個(gè)電容的介損和電容量。

5.2  220kV CVT的測(cè)量方法

1）C11的測(cè)量方法

按圖5-4標(biāo)明的方式接線(xiàn)，測(cè)量C11時(shí)注意：

◇ δ和X相連，與接地分開(kāi)。

◇ a點(diǎn)接紅色高壓測(cè)試線(xiàn)的芯線(xiàn)（紅夾子），C2末端δ和X 接Cx端芯線(xiàn)，這樣C12與C2就被低壓屏蔽了。

2）C12和C2的測(cè)量方法

儀器設(shè)有專(zhuān)門(mén)的CVT自激法，不需外加任何其它設(shè)備，就可以完成測(cè)試。按圖5-5標(biāo)明的方式接線(xiàn)，儀器選用CVT自激法測(cè)量方式，試驗(yàn)電壓可設(shè)置為2kV，CVT自激法能一次測(cè)量C12和C2兩個(gè)電容的介損和電容量。

5.3  110kV CVT的測(cè)量方法

儀器設(shè)有專(zhuān)門(mén)的CVT自激法，不需外加任何其它設(shè)備，就可以完成測(cè)試。按圖5-6標(biāo)明的方式接線(xiàn)，儀器選用CVT自激法測(cè)量方式，試驗(yàn)電壓可設(shè)置為2kV，CVT自激法能一次測(cè)量C13和C2兩個(gè)電容的介損和電容量。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀廣泛的應(yīng)用性

6、現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)注意事項(xiàng)

如果使用中出現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)明顯不合理，請(qǐng)從以下方面查找原因：

6.1搭鉤接觸**

現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量使用搭鉤連接試品時(shí)，搭鉤務(wù)必與試品接觸良好，否則接觸點(diǎn)放電會(huì)引起數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)！尤其是引流線(xiàn)氧化層太厚，或風(fēng)吹線(xiàn)擺動(dòng)，易造成接觸**。

6.2接地接觸**

接地**會(huì)引起儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)。應(yīng)刮凈接地點(diǎn)上的油漆和銹蝕，務(wù)必保證0電阻接地！

6.3直接測(cè)量CVT或末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT

直接測(cè)量CVT的下節(jié)耦合電容會(huì)出現(xiàn)負(fù)介損，消除負(fù)介損可采取下述措施或改用CVT自激法測(cè)量：

1）測(cè)試時(shí)測(cè)量?jī)x器的接地端直接接在被試品的金屬底座上，并保證接觸良好。

2）條件允許時(shí)盡可能將非被試?yán)@組短接，以減小電感和鐵心損耗的影響。

3）被試品周?chē)粦?yīng)有鐵架、腳手架、木梯等物體，盡可能減小分布阻抗的影響。

4）試驗(yàn)引線(xiàn)與被試品的夾角應(yīng)盡可能接近90°，以減小線(xiàn)與試品間的分布電容。

用末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT時(shí)，由于受潮引起“T形網(wǎng)絡(luò)干擾”出現(xiàn)負(fù)介損，吹干下面三裙瓷套和接線(xiàn)端子盤(pán)即可。也可改用常規(guī)法或末端加壓法測(cè)量。

6.4空氣濕度過(guò)大

空氣濕度大使介損測(cè)量值異常增大（或減小甚至為負(fù)）且不穩(wěn)定，必要時(shí)可加屏蔽環(huán)。因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場(chǎng)分布，此法有爭(zhēng)議，可參照有關(guān)規(guī)程。

6.5發(fā)電機(jī)供電

發(fā)電機(jī)供電時(shí)可采用定頻50Hz模式工作。

6.6測(cè)試線(xiàn)

1）由于長(zhǎng)期使用，易造成測(cè)試線(xiàn)隱性斷路，或芯線(xiàn)和屏蔽短路，或插頭接觸**，用戶(hù)應(yīng)經(jīng)常維護(hù)測(cè)試線(xiàn)。

2）測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容試品時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電容影響，否則不能反映儀器精度。

3）自激法測(cè)量CVT時(shí)，若使用“高壓連線(xiàn)拖地”功能，請(qǐng)務(wù)必使用原廠配置的專(zhuān)用高壓電纜（原廠電纜在出廠時(shí)已進(jìn)行校準(zhǔn)），高壓連線(xiàn)的接地屏蔽層必須接地，不可使用其它高壓電纜代替，否則會(huì)引起較大的測(cè)量誤差。若拖地模式下測(cè)量誤差較大，則需將專(zhuān)用高壓電纜返廠重新進(jìn)行校準(zhǔn)。

4）自激法測(cè)量CVT時(shí)，非專(zhuān)用的高壓線(xiàn)應(yīng)吊起懸空，否則對(duì)地附加雜散電容和介損會(huì)引起測(cè)量誤差。使用專(zhuān)用電纜在非拖地模式下測(cè)量CVT，高壓電纜也應(yīng)懸空且電纜的接地屏蔽層不能接地，否則會(huì)引起較大的測(cè)量誤差。

6.7工作模式選擇

接好線(xiàn)后請(qǐng)選擇正確的測(cè)量工作模式，不可選錯(cuò)。特別是干擾環(huán)境下應(yīng)選用變頻抗干擾模式。

6.8試驗(yàn)方法影響

由于介損測(cè)量受試驗(yàn)方法影響較大，應(yīng)區(qū)分是試驗(yàn)方法誤差還是儀器誤差。出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)可首先檢查接線(xiàn)，然后檢查是否為儀器故障。

6.9儀器故障

1）用萬(wàn)用表測(cè)量一下測(cè)試線(xiàn)是否斷路，或芯線(xiàn)和屏蔽是否短路；

2）輸入電源220V過(guò)高或過(guò)低；接地是否良好；

3）用正、反接線(xiàn)測(cè)一下標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介損的電容試品，如果結(jié)果正確，即可判斷儀器沒(méi)有問(wèn)題；

4）拔下所有測(cè)試導(dǎo)線(xiàn)，進(jìn)行空試升壓，若不能正常工作，儀器可能有故障。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀廣泛的應(yīng)用性

7、儀器檢定

7.1檢定

用帶插頭的屏蔽電纜連接標(biāo)準(zhǔn)損耗器。如果不能保證標(biāo)準(zhǔn)損耗器的精度，應(yīng)使用比對(duì)法檢定，建議用2801電橋或其它精密電橋作比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)。

1）介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器一般為串聯(lián)模型，因此儀器的試品模型應(yīng)選擇“RC串聯(lián)(電流比較儀型電橋)”或“RC串聯(lián)(西林型電橋)”。

RC串聯(lián)(電流比較儀型電橋)：采用電流比較儀型電橋（如QS30電橋）校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器)，該項(xiàng)在開(kāi)始測(cè)試界面顯示"RC串聯(lián)"。

    RC串聯(lián)(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器) ，該項(xiàng)在開(kāi)始測(cè)試界面顯示 "RC串聯(lián)"。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器)的區(qū)別只是電容量不同：

為西林型電橋標(biāo)定值，C為電流比較儀型電橋標(biāo)定值。

2）用介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器（或標(biāo)準(zhǔn)電容器）檢定儀器反接線(xiàn)精度時(shí)，高壓電纜與試品連接必須使用全屏蔽插頭，否則暴露的芯線(xiàn)會(huì)引起測(cè)量誤差。

3）用介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器（或標(biāo)準(zhǔn)電容器）檢定儀器正接線(xiàn)精度時(shí)，低壓電纜與試品連接必須使用全屏蔽插頭，否則暴露的芯線(xiàn)會(huì)引起測(cè)量誤差。

嚴(yán)格按照上述要求檢定方能真實(shí)反映本儀器的測(cè)量精度！

7.2抗干擾能力

設(shè)置一個(gè)回路向儀器注入定量的干擾電流。

注意：

1）應(yīng)考慮到該回路可能成為試品的一部分。

2）儀器啟動(dòng)后會(huì)使220V供電電路帶有測(cè)量頻率分量，如果該頻率分量又通過(guò)干擾電流進(jìn)入儀器，則無(wú)法檢驗(yàn)儀器的抗干擾能力。

3）不建議用臨近高壓導(dǎo)體施加干擾，因?yàn)檫@樣很容易產(chǎn)生近距離**放電，這種放電電阻是非線(xiàn)性的，容易產(chǎn)生同頻干擾。